URN: http://vtn.chdtu.edu.uaurn:2306:44552.2018.162163

DOI: https://doi.org/10.24025/2306-4412.2.2018.162163

ПІДВИЩЕННЯ СТІЙКОСТІ ОПТИЧНИХ ЕЛЕМЕНТІВ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ ПРИЛАДІВ ДО ЗОВНІШНІХ ТЕРМІЧНИХ ВПЛИВІВ

І. В. Яценко, В. A. Ващенко, В. В. Цибулін

Анотація


В результаті проведених експериментальних досліджень встановлено, що після поперед-ньої обробки робочих поверхонь елементів з оптичних керамік рухомим електронним променем для діапазонів зміни його параметрів (густини теплового впливу Fn = 10…1,6·107 Вт/м2 та швидкості його переміщення V = 10-3…10-1 м/с) підвищується мікротвердість поверхні у 1,5…1,7 рази; у поверхневих шарах товщиною 40…60 мкм виникають стискачі термопружні напруження величиною 25…90 МПа, які призводять до утворення зміцнених шарів товщиною до 210…230 мкм. Отримано, що покращення властивостей поверхневих шарів оптичних еле-ментів після їх електронно-променевої обробки призводить до підвищення стійкості елемен-тів до зовнішніх термовпливів: збільшуються у 2…4 рази критичні значення зовнішніх тепло-вих потоків та тривалості їх дії, які призводять до руйнування елементів; при цьому збіль-шення зовнішнього тиску від 105 Па до 107 Па знижує вказані критичні значення параметрів у 1,3…1,7 рази; підвищуються у 1,8…2,7 рази значення гранично допустимих термопружних на-пружень у оптичних елементах, оброблених електронним променем, для діапазонів зміни тем-ператур нагріву 300…1200 К.

Ключові слова


оптико-електронне приладобудування; оптична кераміка; електронний промінь; мікроструктура; твердість; термопружні напруження.

Повний текст:

PDF

Пристатейна бібліографія ГОСТ


1. Ващенко В. А., Канашевич Г. В., Лука-шенко В. М., Бондаренко М. А., Яцен-ко И. В. Оптоэлектроника и микрооптика – перспективные отрасли науки и техни-ки. Вісник Черкаського державного тех-нологічного університету. 2002. №2. С. 52–62.


2. Тарасов В. В., Якушенков Ю. Г. Инфра-красные системы “смотрящего” типа. М.: Логос, 2004. 444 с.
3. Ващенко В. А., Котельников Д. И., Ле-га Ю. Г., Краснов Д. М., Яценко И. В., Кириченко О. В. Тепловые процессы при электронной обработке оптических мате-риалов и эксплуатации изделий на их ос-нове. К.: Наукова думка, 2006. 368 с.


4. Глущенко А. Р. Гордиенко В. И., Бу-рак А. В., Денисенко А. Ю. Танковые ночные системы и приборы наблюдения. Черкассы: Фотоприбор, 2007. 441 с.


5. Дудко Г. В., Кулов С. К., Розе Ю. А., Максимова Н. Г. Исследование электрон-но-лучевых процессов в создании базо-вых технологий ЭЛЭФП. Электронная промышленность. 1991. Вып. 1. С. 41–45.


6. Канашевич Г. В., Ващенко В. А., Бонда-ренко М. О. Перспективи використання електронного променю в технології інте-гральної оптики. Вісник Черкаського ін-женерно-технологічного інституту. 2000. № 2. С. 189–193.


7. Дубровская Г. Н., Канашевич Г. В., Ва-щенко В. А., Котельников Д. И., Яцен-ко И. В. Получение функциональных слоев в оптическом стекле и керамике методом электронной обработки. Меж-дународный научно-практический симпо-зиум “Функциональные покрытия на стеклах”: Сборник докладов. Харьков: НТЦ ХФТИ “Константа”, 2003. С. 135–137.


8. Ващенко В. А. Яценко І. В., Лега Ю. Г., Кириченко О. В. Основи електронної об-робки виробів з оптичних матеріалів: мо-нографія. К.: Наукова думка, 2011. 562 с.


9. Yatsenko I., Antoniuk V., Bondarenko M., Vashchenko V. Influence of parameters by electronic ray on properties of superficial layers of optical elements of exact instru-ment-making. International journal for sci-ence and innovations for the industry “Innovations in discrete productions”, YEAR III, ISSUE 1/2015. Sofia. P. 13–15.

10. Панов В. А., Кругер М. Я., Кулагин В. В. и др. Справочник конструктора оптико-механических приборов. Л.: Машино-строение, 1980. 742 с.


11. Окатов М. А. Антонов Э. А., Байго-жин А. Б. Справочник оптика-технолога. СПб.: Политехника, 2004. 679 с.


12. Патент України на корисну модель № 4177С03В29/00, Н01J37/305. Пристрій для електронно-променевого полірування виробів / Г. В. Канашевич, Ю. І. Коваленко, М. О. Бондаренко, В. А. Ващенко, В. П. Бойко, М. П. Рудь, І. В. Яценко. Бюл. № 1/2005.


13. Шиммель Г. Методы электронной микро-скопии. М.: Мир, 1972. 300 с.


14. Горелик С. С., Скачков Ю. А., Расторгу-ев Л. Н. Рентгенографический и элек-тронно-оптический аналіз. М.: МИСиС, 1994. 328 с.


15. Дубровська Г. М., Канашевич Г. В., Бож-ко Н. І. Прилади застосування фізичних методів дослідження структури поверхні. Сільхет: Шобуж Біпоні, Удоун Офсет Принтерс, 2007. 248 с.





Copyright (c) 2018 І. В. Яценко, В. A. Ващенко, В. В. Цибулін