ІМІТАЦІЙНА МОДЕЛЬ ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНОЇ СИСТЕМИ ЕЛЕКТРИЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК ФУНКЦІОНАЛЬНИХ ПОКРИТТІВ ЕЛЕКТРОННИХ ПРИСТРОЇВ
DOI:
https://doi.org/10.24025/2306-4412.3.2022.265745Ключові слова:
електронний пристрій, функціональне покриття, інформаційно-вимірювальна система, електрична характеристика, імітаційна модельАнотація
У статті розроблено та досліджено імітаційну модель (на базі математичного процесора MatLab Simulink) інформаційно-вимірювальної системи електричних характеристик (залишкового поверхневого електричного заряду, ємності поверхневого шару тощо) функціональних покриттів електронних пристроїв. Основною метою цієї імітаційної моделі було визначення раціональних параметрів вимірювання розробленої авторами інформаційно-вимірювальної системи та керування нею, які б спростили процес налагодження такої системи, а також дослідження динамічних режимів її роботи. Основною перевагою розробленої імітаційної моделі є можливість проведення інтерактивного дослідження роботи інформаційно-вимірювальної системи в різних, зокрема граничних, режимах. Випробування імітаційної моделі інформаційно-вимірювальної системи дозволили дослідити її роботу за різних умов і режимів вимірювального експерименту, а також віртуально визначити раціональні параметри роботи такої вимірювально-керуючої системи. Встановлено задовільну розбіжність експериментальних результатів 8-11,5 % порівняно з даними, отриманими аналітичним шляхом, що підтверджує правильність і адекватність складеної моделі.
Посилання
Ajit D. Kelkar, Daniel J. C. Herr, and James G. Ryan, Nanoscience and Nanoengineering: Advances and Applications. Prague, Czech Republic: CRC Press, 2014.
Status of the MEMS industry 2018. Lyon, France: Yole Development SARL, May 2018.
V. Tsenev, "An addition of functionalities in an integrated robot complex for assembling electronic products". Innovations in discrete productions, no. 1, pp. 34-35, 2016. [Online]. Available: https://stumejournals.com/journals/innovations/2016/1/34.full.pdf
Yong Zhu, Micro and Nano Machined Electrometers. Singapore: Springer, 2020. doi: 10.1007/978-981-13-3247-0.
J. Vedral, and M. Kriz, "Signal processing in partial discharge measurement", Metrology and Measurement Systems, no. 1 (17), pp. 55-63, 2010. [Online]. Available: https://doi.org/10.2478/v10178-010-006-8
C. L.Wadhwa, High Voltage Engineering. New Delhi, India: New Age International, 2007.
A. Sabat, and S. Karmakar, "Simulation of partial discharge in high voltage power equipment", International Journal on Electrical Engineering and Informatics, no. 3 (2), pp. 234-247, 2011.
E. Kuffel, W. S. Zaengl, and J. Kuffel, High Voltage Engineering. London, GB: TBS, 2000.
A. Tzinevrakis, D. Tsanakas, and E. Mimos, "Analytical calculation of the electric field produced by single circuit power lines with horizontal arrangement of the conductors", in 51st Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, Technische Universität Ilmenau, Ilmenau, Sept. 11-15, 2006.
Yu. Shi, G. Xie, Q. Wanga X. Li, X. Yang, P. Liu, and Z. Peng, "Simulation analysis and calculation of electric field distribution characteristics of UHV wall bushing", in 4th International Conference on Electrical Engineering and Green Energy CEEGE, Munich, June 10-13, 2021, pp. 110-117. [Online]. Available: https://doi.org/10.1016/j.egyr.2021.08.066
J. Junior, R. Marcos, C. Tenorio, A. Mateus, and C. Egoavil, "Development of a matlab software for real-time mapping of electric fields on transmission power line", International Journal of Technology, no. 2, pp. 164‐170, 2011.
J. Nalepa, "Modelling and simulation of measuring systems using the Simulink specialised Toolbox", in IX International Syposium on Electrical Instruments in Industry, Glasgow, 1997, pp. 249-252.
Д. В. Тичков, М. О. Бондаренко, та В. С. Антонюк, "Особливості розрахунку та дослідження ємнісних перетворювачів діелектричної проникливості з різною формою електродів", Перспективні технології та прилади, т. 14, с. 140-145, 2019.
M. A. Bondarenko, S. A. Bilokon, V. S. Antonyuk, and Iu. Iu. Bondarenko, "Mechanism of origin and neutralization of residual triboelectricity at scanning of dielectric surfaces by a silicon probe of the atomicforce microscope", Journal of Nano- and Electronic Physics, no. 2 (6), pp. 02018-1-02018-5, 2014.
D. K. Chaturvedi, Modeling and Simulation of Systems Using MATLAB and Simulink. Boca Raton, USA: CRC Press, 2017. [Online]. Available: https://doi.org/10.1201/9781315218335.
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
URN
Ліцензія
Авторське право (c) 2022 Владислав Титаренко, Дмитро Тичков
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Автори, які публікуються в цьому збірнику, погоджуються з наступними умовами:
Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають збірнику право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License CC BY-NC, яка дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи в цьому збірнику.
Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи в тому вигляді, в якому її опубліковано цим збірником (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати в складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи в цьому збірнику.
Політика збірника наукових праць дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
