ПЕТРЕНКО, С. Ф.; НОВАКОВСЬКИЙ, О. Г.; АНТОНЮК, В. С.; СКОРИНА, Є. В.; БОНДАРЕНКО, Ю. Ю. ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ. Вісник Черкаського державного технологічного університету, [S. l.], v. 1, n. 1, p. 5–13, 2018. DOI: 10.24025/2306-4412.1.2018.153265. Disponível em: http://vtn.chdtu.edu.ua/article/view/153265. Acesso em: 29 квіт. 2024.