Петренко, С. Ф., Новаковський, О. Г., Антонюк, В. С., Скорина, Є. В. і Бондаренко, Ю. Ю. (2018) «ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ», Вісник Черкаського державного технологічного університету, 1(1), с. 5–13. doi: 10.24025/2306-4412.1.2018.153265.