С. Ф. Петренко, О. Г. Новаковський, В. С. Антонюк, Є. В. Скорина, і Ю. Ю. Бондаренко, «ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ», Вісник ЧДТУ, т. 1, вип. 1, с. 5–13, Бер 2018.