Петренко, С. Ф., О. Г. Новаковський, В. С. Антонюк, Є. В. Скорина, і Ю. Ю. Бондаренко. «ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ». Вісник Черкаського державного технологічного університету, т. 1, вип. 1, Березень 2018, с. 5-13, doi:10.24025/2306-4412.1.2018.153265.